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第九届中国测试学术会议在江苏南通成功举办

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2016-07-27

由中国计算机学会(CCF)主办,CCF容错计算专业委员会和南通大学承办的第九届中国测试学术会议(CTC2016,会议编号:CCF-TC-16-02N)于7月22日至24日在江苏省南通市滨江酒店召开。来自中国科学院计算技术研究所、清华大学、北京大学、、哈尔滨工业大学、同济大学、合肥工业大学、南通大学、香港中文大学、凯云联创、苏州冉芯、华为、360、航天科技等单位的230余名代表参加了这次会议,参会人数创会议新高。

会议开幕式由容错计算专委秘书长、中国科学院计算技术研究所韩银和研究员主持,南通大学副校长丁斐教授、国家自然科学基金委员会信息科学学部副巡视员/战略规划与综合处处长何杰研究员、大会主席李晓维研究员、专委会主任李华伟研究员分别致辞。CCF常务理事、上海交通大学过敏意教授和CCF专委工委通讯委员、复旦大学张文强副教授代表CCF出席了会议。

本次会议邀请三位IEEE Fellow做大会报告,分别为:希腊雅典大学Dimitris Gizopoulos教授的“Microarchitecture-Level Reliability Assessment”;香港中文大学吕荣聪教授的“Improving Software Reliability by Introducing Diversities among Software: From NVP to NVO”;日本九州工业大学温晓青教授的“Power-Aware LSI Testing: Challenges and Strategies”;三位专家分别从处理器、软件可靠性和集成电路测试三方面分享了他们的观点。

会议安排了八个分会场进行分组报告,50余位代表分享了各自在测试、容错、可信、硬件安全等方面的研究成果。在常规学术论文程序外,还举办了第一届硬件安全论坛和DAC论坛。第一届硬件安全论坛特邀美国马里兰大学屈钢教授做主题报告,来自360、香港中文大学等单位的8位专家学者做主题报告,论坛还组织了原型展示赛活动,并评选出优秀展示奖。设计自动化会议(DAC)是集成电路领域的顶级会议,会议另辟了DAC论坛,邀请了清华大学、中科院计算所、复旦大学等单位的5位青年学者,报告他们发表在今年DAC上的论文,论坛还组织了“机器学习是否是芯片和EDA的灵丹妙药”Panel,现场讨论气氛非常火爆。

会议期间,CCF容错专委会还召开了年度工作会议,全体委员通过差额选举增选了16位专委委员,与会委员就“容错专委作为老专委如何有新突破”等主题进行了热烈的探讨,大家对有如此多年轻人申请加入专委感到欣喜,并提出了新的期望。在会议组织的颁奖晚宴上,专委会给本次会议的承办单位、支持单位、资深委员、新委员以及优秀论文颁发了奖牌和证书。

本次会议于7月24日顺利闭幕,2017年容错专委年会将在江苏南京举办。


会议现场

大会主席李晓维研究员致辞

专委会主任李华伟研究员致辞

 

专委会秘书长韩银和

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