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第五届全国测试会议（CTC'08）在苏州举行

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2008-08-27

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由中国计算机学会容错计算专业委员会定期主办的全国测试会议（CTC）每两年召开一次（逢双年），第一届至第四届分别在北京、上海、长沙和北戴河举行。第五届全国测试学术会议（CTC'08）于2008年5月21-23日在苏州市工业园区国际科技园成功召开。来自计算机、通信、电子行业从事设计和测试技术研究、开发、应用的学者、专家、研究生、设计和测试工程师、设计工具和设备供应商踊跃参加会议进行交流（详见会议网站http://ctc08.szicc.com.cn）。本届会议主题为“加强学术界与工业界交流，促进测试技术发展”，交流讨论数字电路测试和可测试性设计，模拟混合信号电路测试和可测试性设计，软件测试和测试平台，设计验证和模拟，容错技术和信息安全，自动测试设备和测试应用等方面的技术。会议邀请了两位来自集成电路测试领域的著名专家作了大会报告；在分组报告会中，安排了四个专题讨论会，对所关心的问题进行互动讨论或辩论；特别地，本届会议在5月21日安排了一个讲座日（Tutorial Day），邀请了来自学术界和工业界的多位著名学者和专家做了讲座报告。

（容错计算专委供稿）

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